Mini SEMCross Section Polisher
개요
CP-8000COXEM의 CP-8000은 Cross section Polisher로 단면 가공 장비입니다.이는 Ar 플라즈마를 이용하여 시료의 가공변화 없이 단면을 식각하는 장비로써시료내부의 상태를 SEM 이미지와 함께 기타분석 장비 (EDS,WDS,EBSD,etc)와 동시분석을 활용하기에 적합한 …
Mini SEMCOXEM CX-200Plus개요Full-size SEMCX-200PLUS 제품은 compact한 디자인과업그레이드 된 소프트웨어 나노스테이션 4.0사용자가 간편하게 사용할 수 있도록 개발되었습니다. 특징Nano Station코셈의 소프트웨어 나노스테이션은 마우스와 키보드를 …
Mini SEMCOXEM EM-30개요Benchtop SEMEM-30은 가장 기본적인 SEM 시스템으로써 SE 검출기를 기본으로 내장하여 제공합니다.BSE 검출기 및 EDS는 옵션으로 추가 가능합니다.100K의 배율과 15nm의 분해능을 제공하는 스탠다드 한 Benchtop SEM으로기본에 충실하며 가성비 또한 높은 …
Mini SEMCOXEM EM-30C개요Benchtop SEMEM-30C는 CeB6 필라멘트를 적용하여 기존 제품 대비 10배이상 개선된 휘도와보다 긴 수명이 큰 장점이며, 다양한 편의 기능 또한 탑재하였습니다. 특징1. 사용하기 쉬운 인터페이스2. 완벽한 수준의 오토기능- 샘플스테이지 Full Auto사용- 높은 수준의 Auto …
Mini SEMCOXEM EM-30N
개요
Benchtop SEM고배율에서 노이즈없이, 선명한 영상을 관찰할 수 있으며,파노라마 기능을 이용하여 보다 넓은 영역 스캔이 가능합니다.또한, EDS와의 자유로운 호환을 통해 최적의 성능을 구현할 수 있습니다. 특징 스펙카탈로그전자현미경 …
LASER RADARMV331 / 351
개요
비접촉식 자동 대량 검사Laser Radar는 대규모공간에서 비접촉삼차원의 자동측정이 가능한 장치입니다.독자의 적외선변조방식의 적용으로, 다채로운 표면소재, 다양한 반사율의 대상물의 측정이 가능합니다.측정시 마커 및 타겟터를 대상물에 장착할 필요가 없습니다.
특징대규모 공간에서 측정이 가능장치에서 최대 50M 떨어져있는 …
BW-Series
개요
White Light Interferometric Microscope SystemsNikon 백색간섭 현미경 시스템평균화 또는 필터링 프로세스 없이 매끄러운
표면의 1pm Height Resolution
측정을 실현광범위한 배율에서 동일한 높이 분해능으로
측정을 활성화 측정 모드나 광학 필터를 변경없이,
매끄러운 표면과 거친 표면 측정가능
전체 초점 영상과 표면 높이 영상 캡처 …
CNC Video Measuring System (NEXIV)[컨포컬] VMZ-K6555
개요
컨포컬 스캔을 활용한 자동 측정 시스템Nikon의 비접촉3차원 측정기 NEXIV는 광학 줌헤드를 기반으로다양한 시편의 배율, 시편의 크기 등에 유연하게 대응 할 수 있습니다.높은 스테이지 정확도와 측정 정밀도는 빠르게 측정하기 위한장비의 기본 밑바탕이 됩니다.측정 이외에도 자동 이미지 병합, EDF, 3D 프로파일러 등다양한 기능을 구성하여 범용적으로 사용 할 수 있습니다.VMZ-K …