Mô tả
CNC 영상 측정 시스템 “NEXIV VMZ-R4540″은 고밀도 및 다층 전자 부품의 치수와 형상을 정확하게 측정할 수 있습니다.
주요 특징들
광학 줌 유형
유형 1, 2 및 3 줌 시스템은 선명하고 왜곡이 적은 이미지와 높은 NA를 제공합니다. Type A 줌 시스템은 넓은 시야와 긴 작동 거리를 위해 설계되었습니다.
확대 대 시야(mm)
| 유형 1 | 광학 배율 전체 배율 시야(mm) | 0.5× 18× 9.33×7 | 1× 36× 4.67×3.5 | 2× 72× 2.33×1.75 | 4× 144× 1.165×0.875 | 7.5× 270× 0.622×0.467 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 유형 2 | 광학 배율 전체 배율 시야(mm) | 1× 36× 4.67×3.5 | 2× 72× 2.33×1.75 | 4× 144× 1.165×0.875 | 8× 288× 0.582×0.437 | 15× 540× 0.311×0.233 |
| 유형 3 | 광학 배율 전체 배율 시야(mm) | 2× 72× 2.33×1.75 | 4× 144× 1.165×0.875 | 8× 288× 0.582×0.437 | 16× 576× 0.291×0.218 | 30× 1080× 0.155×0.117 |
| 유형 A | 광학 배율 전체 배율 시야(mm) | 0.35× 14× 13.3×10 | 0.6× 24× 7.8×5.8 | 1× 40× 4.7×3.5 | 1.8× 73× 2.6×1.9 | 3.5× 141× 1.33×1 |
* 위에 나열된 총 배율 사양은 20인치 모니터가 UXGA(1600 x 1200픽셀) 모드로 설정된 경우입니다.
레이저 AF
| 얇은 투명 재료의 표면을 감지하도록 설계된 새로운 Laser AF는 VMR 시리즈 Laser AF와 동일한 고속 및 고정확도로 작동합니다. *A형 제외 | |
| 새로운 레이저 AF 새로운 센서는 표면의 상단과 후면을 모두 감지합니다. |
3개의 입사각이 있는 8섹터 링 라이트 시스템
Episcopic, Diascopic 및 Ring 조명은 백색 LED를 사용하여 안정성과 긴 수명을 제공합니다. 새로운 링 라이트 시스템에는 정확한 에지 캡처를 위해 설계된 3개의 입사각이 있습니다.
*A형 제외
능률적이고 논리적인 소프트웨어
Wizard로 재설계된 사용자 인터페이스를 통해 초보자가 시스템을 쉽게 작동하고 자동 측정 프로그램을 만들 수 있습니다.
[기준]
가상 자동 측정
프로파일러
측정 보고서 생성기
[옵션]
EDF 스티칭 익스프레스
측정 정확도가 더욱 향상되었습니다.
니콘에서 개발한 고해상도 리니어 엔코더 ‘ModuRay’로 측정 정확도를 더욱 높였습니다.
다양한 시료에 적합한 스트로크
450 x 400 x 200mm 스트로크는 고정 장치를 위한 충분한 공간이 있는 광범위한 응용 분야에 적합합니다.
더 빠른 처리량
빠른 조명 제어와 결합된 높은 데이터 전송 속도는 더 빠른 처리량을 제공합니다.
